所示，用两个标称尺寸相同的陶瓷量块的工作面作为基面，两块量块工作面的平面性要求小于0．015 肌，将相同尺寸的陶瓷量块和玻璃量块并排地研合在这两块
量块的工作表面。将该组合体倒置于柯氏干涉仪工作台
上，用黄光观察，陶瓷量块低于研合面的光学距离为t +Ⅳ，而玻璃量块低于研合面的距离为t：，故它使我们看到在陶瓷量块和玻璃量块上有两组相互平行的干涉带。由于研合厚度的差别及光在陶瓷量块表面的位相跳跃，使两组干涉带中间的黑干涉带有一个位移
由于陶瓷量块的特殊性，选择测量方法时要特别注意，采用比较法测量陶瓷量块长度时，应采用陶瓷量块作为标准，同时配以陶瓷材料制成的带筋工作台；选择直接测量时，要根据量块的材料特性确定修正量C ，而不能直接引用钢量块的0．06 m的修正量
垂直度测量:将被测零的直角度的一边放置于平台上
垂直度测量：
将被测零的直角度的一边放置于平台上，另一边让直角尺与之靠紧，深圳防水数显卡尺，用塞尺测量部品与直角尺之间间隙。塞规（棒针）的应用:适用于测量孔的内径、槽宽、间隙。零件孔径较大，没有合适的针规时，可将两个塞规重叠，按360度方向测量将塞规固定在带磁性的V形块上，可防止松动，防水数显卡尺供货商，易于测量。孔径测量内孔测量：孔径测量时，贯通为合格，防水数显卡尺厂，如下图。注意：塞规测量时，需垂直插入，不可斜插。
测量范围
在允许不确定度内，测量器具所能测量的被测量值的下限值至上限值的范围。例如，外径千分尺的测量范围有0～25mm、25～50mm等，机械式比较仪的测量范围为0～180mm。测量力 在接触式测量过程中，测量器具测头与被测量面间的接触压力。测量力太大会引起弹性变形，测量力太小会影响接触的稳定性。示值误差测量仪器的示值与被测量的真值之差。示值误差是测量仪器本身各种误差的综合反映。因此，仪器示值范围内的不同工作点，示值误差是不相同的。一般可用适当精度的量块或其它计量标准器，来检定测量器具的示值误差。
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