外测量示值误差——用步距规或尺寸分布适宜的一组量块(不少于5件)在外量面内侧(阿贝误差小，在量面外侧检外量面平行度)检验其外测量示值误差，防水数显卡尺供货商，其误差应不超过标准规定的极限(与测量范围有关，0-100mm为±0.02mm； ＞100-300mm为±0.03mm)；
内测量示值误差——用小环规(直径3-4mm)和步距规相结合检验内测量示值误差，这是国际通用检验方法。但我国多数卡尺(防水数显卡尺、带表卡尺、或游标卡尺)生产厂家和用户，并未认真检验内测量示值误差，只检验10mm处内量爪尺寸或这一点的示值误差，以至多数卡尺内测量示值误差较大(与国外卡尺相比，差距较大)。
M型标准卡尺例:使用前的注意事项
M型标准卡尺例：使用前的注意事项1. 使用少量千分尺润滑油擦拭基准端面及滑动部位。2. 全行程移动尺框，南京防水数显卡尺，确认是否被卡住等。3. 清洁测量面后，使其贴合，确认下面的内容：外侧测量面：对准光源时，看不到光是正常的。有污渍、碎屑或毛刺等不能完全贴合时，防水数显卡尺定制，有时能看到光。内侧测量面：对准光源时，仅能看到一点光的状态是正常的。
陶瓷量块长度的直接测量
陶瓷量块因材料的特殊性，它的微观结构中分布着许多极微细的气孔，容易排除空气达到很好的研合效果。对于二等以上的陶瓷量块，通常采用柯氏干涉仪直接测量陶瓷量块长度。采用柯氏干涉仪测量量块的长度，由于研合平晶一般为玻璃平晶，需要对材料差异进行修正。材料差异修正值(修正量C)与量块材料、表面粗糙度、研合质量等特性密切相关，要准确测得陶瓷量块的长度，不能采用钢量块和玻璃平晶研合时的修正量C，要通过实验的方法确定陶瓷与玻璃的修正量。陶瓷量块研合在玻璃平晶上时，其研合厚度t与陶瓷量块研合在陶瓷平板上的研合厚度t是不相同的，光在不同材料表面反射时，防水数显卡尺报价，会产生位相跳跃，设其引起的测量误差为Ⅳ，则用柯氏干涉仪测量陶瓷量块长度时的修正量c，=N+t，一t：。
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