测量仪器是用于检出或者测量一个量或为测量目的的供给一个量的器具,测量仪器是为了取得目标物某些属性值而进行衡量所需要的第三方标准,故测量仪器一般都具有刻度,容积等单位。一般分为接触试和光学试测量两种,概念其基本内容包括精度、误差、测量标准器材、长度测量、角度测量、形状测量、传统光学仪器、在精密测量上的应用等。
所示,用两个标称尺寸相同的陶瓷量块的工作面作为基面,两块量块工作面的平面性要求小于0.015 肌,防水数显卡尺批发,将相同尺寸的陶瓷量块和玻璃量块并排地研合在这两块
量块的工作表面。将该组合体倒置于柯氏干涉仪工作台
上,用黄光观察,西安防水数显卡尺,陶瓷量块低于研合面的光学距离为t +Ⅳ,而玻璃量块低于研合面的距离为t:,故它使我们看到在陶瓷量块和玻璃量块上有两组相互平行的干涉带。由于研合厚度的差别及光在陶瓷量块表面的位相跳跃,使两组干涉带中间的黑干涉带有一个位移
由于陶瓷量块的特殊性,防水数显卡尺定制,选择测量方法时要特别注意,防水数显卡尺价格,采用比较法测量陶瓷量块长度时,应采用陶瓷量块作为标准,同时配以陶瓷材料制成的带筋工作台;选择直接测量时,要根据量块的材料特性确定修正量C ,而不能直接引用钢量块的0.06 m的修正量
垂直度测量:
将被测零的直角度的一边放置于平台上,另一边让直角尺与之靠紧,用塞尺测量部品与直角尺之间间隙。塞规(棒针)的应用:适用于测量孔的内径、槽宽、间隙。零件孔径较大,没有合适的针规时,可将两个塞规重叠,按360度方向测量将塞规固定在带磁性的V形块上,可防止松动,易于测量。孔径测量内孔测量:孔径测量时,贯通为合格,如下图。注意:塞规测量时,需垂直插入,不可斜插。
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