千分尺|上量尖头千分尺|桂量量具千分尺厂家
【桂量量具向你推荐明星产品-电子数显深弓架千分尺】
检验千分尺的方法：
一、测量面的平行度及平面度采用光学平晶进行检验:光学平面与丝杆测量面或测砧测量面贴合度
后，由于测量面的不平度，使平晶与测量面之间存在空隙，从而产生干涉带或干涉环，在测
量面的垂直方向每条干涉带或干涉环所代表的平面度误差为0.3μm.
二、测量面的平行度误差：测量范围上限至100mm的千分尺两侧量面的平行度采用丝杆螺距的1/3
或1/4的光学平行平晶来进行检验，依次将光学平行平晶防入两测量面间转动测力装置。施加
5-10N的力，千分尺，使两测量面出现的干涉环或干涉带数目减少至少.测量范围大于100mm的千分尺，
测量面的平行度可用自准直仪进行检验.在距测量边缘0.4mm范围内的平行度忽略不计，
三、测量面的平面度误差：
采用二级光学平晶检验，应调整光学平晶使测量面上干涉带或干涉环。测量面不应出现两条以
上的相同颜色的干涉环或干涉带（测量量面的平面度，数显千分尺，〈0.6μm）在距测量面边缘0.4mm范围内
的平面度忽略不计。
【桂量量具向你推荐明星产品-陶瓷测头千分尺】
特点：
1.陶瓷测头（二氧化锆）材质，高新材料，可以防磁，耐磨耐腐蚀耐用，可以适应各种测量环境
2.高精度设计，测量范围0-25mm，精度达到±0.004mm
3.陶瓷测头硬度高，耐磨性好4.以微分套筒的基准线为基准读取左边固定套筒刻度值，上量尖头千分尺，再以固定套筒基准线读取微分套筒刻度线上与基准线对齐的刻度，电子尖头千分尺，即为微分套筒刻度值，将固定套筒刻度值与微分套筒刻度值相加，即为测量值。
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